Master 2 Instrumentation, mesure, métrologie - Parcours type : Instrumentation des moyens d'essai (IME)
UNIVERSITE D'AIX MARSEILLE
MétrologieUNIVERSITE D'AIX MARSEILLE
Le parcours « Microcapteurs et Systèmes de Détection » du master IMM a pour objectifs de proposer aux étudiants une formation de très haut niveau, à la fois théorique et pratique, leur permettant d'acquérir les compétences nécessaires à la conception d'un système complet, allant de la physique des capteurs à la conception des systèmes embarqués et l'instrumentation, les capteurs miniaturisés et les microsystèmes intelligents, en passant par les nouvelles technologies et le traitement des données.
Métiers visés :
- Ingénieur recherche développement dans le domaine des capteurs
- Ingénieur spécialiste des systèmes de détection
- Cadre de niveau ingénieur d'étude, de production, dans les secteurs industriels de la microélectronique, des systèmes de détection et plus généralement des sciences et technologies de l'information et de la communication.
- Chercheur (organismes de recherche, universités) dans les domaines de la microélectronique et des nanotechnologies
Semestre 3
- Physique des semiconducteurs et des microcapteurs (2 crédits)
- Microélectronique appliquée aux microcapteurs (6 crédits)
- Signal et systèmes embarqués (4 crédits)
- Nanostructuration des matériaux (2 crédits)
- Composants et systèmes de détection 1 (6 crédits)
- Composants et systèmes de détection 2 (6 crédits)
- Projet de recherche en anglais (4 crédits)
Semestre 4
- Stage en laboratoire MSD (30 crédits)
- élaborer (procédés microélectroniques), concevoir (outils de conception), tester (diagnostic, tests embarqués) et caractériser des circuits intégrés numériques, analogiques et mixtes ; concevoir un système complexe, système hétérogène par nature, embarqué, communicant et lui-même embarquant des microsystèmes,
- définir des procédures d'essais et méthodes de tests,
- élaborer, caractériser et simuler les nanomatériaux et les nano-dispositifs de la nanoélectronique ; utiliser les techniques de caractérisation avancées,
- élaborer des procédés de fabrication microélectroniques
Formation de très haut niveau apportant les compétences pour la conception d'un système complet (physique des capteurs, conception des systèmes embarqués, capteurs miniaturisés, microsystèmes intelligents, nouvelles technologies, traitement des données
MASTER Instrumentation, mesure, métrologie (fiche nationale)
RNCP 38684 RS -1 CertifInfo 116436 UNIVERSITE D'AIX MARSEILLE
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MétrologieCONSERVATOIRE NATIONAL DES ARTS ET METIERS
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